Световая маскировка населённых пунктов и объектов народного хозяйства. СНиП 2.01.53-84. Методика измерения уровней освещённости.

ПРИЛОЖЕНИЕ 12
Обязательное

Методика измерения уровней освещённости, создаваемой светильниками внутреннего и наружного освещения, и производственными огнями.
При проверке внутреннего и наружного маскировочного освещения следует установить соответствие фактических уровней освещенности различных поверхностей, просматриваемых из верхней полусферы, допустимым уровням освещенности в режиме полного затемнения, как указано в пп. 2.4, 2.5, 3.4, 3.5.
Перед измерением освещенности необходимо убедиться в том, что прямой световой поток светильников внутреннего и наружного освещения не попадает в верхнюю полусферу. Проверка осуществляется визуальным осмотром светильников и их расположения относительно кронштейнов и подвесов.
В соответствии с размещением освещенной поверхности в пространстве приемная пластина фотоэлемента должна располагаться на этой поверхности горизонтально, вертикально или наклонно в том месте, где необходимо измерить освещенность.
Положение гальванометра люксметра при измерениях должно быть горизонтальным. Не рекомендуется устанавливать гальванометр на металлические поверхности. Если порядок измеряемой величины неизвестен, то переключатели пределов во избежание зашкаливания гальванометра устанавливаются на наибольший предел. Затем при необходимости чувствительность гальванометра увеличивают путем переключения пределов и изменения насадок.
При измерении освещенности необходимо следить за тем, чтобы на приемную пластину фотоэлемента не попадали тени от человека или оборудования. Измерения необходимо производить в ночное время
При проверке наружного маскировочного освещения измерения освещенности производятся на горизонтальной освещаемой поверхности непосредственно под светильником. При нахождении вблизи светильника освещенных вертикальных и наклонных поверхностей освещенность измеряется и на них.
При проверке внутреннего освещения измерения освещенности производятся:
а) по оси установки светильников внутреннего освещения — непосредственно под светильником, на полу между светильниками, на рабочих поверхностях и на наиболее освещенных частях оборудования;
б) у световых проемов — с внутренней стороны помещения на горизонтальной поверхности;
в) снаружи здания — в наиболее освещенной части светового пятна на поверхности земли за оконным проемом.
При комбинированном освещении рабочих мест сначала измеряется освещенность от светильников общего освещения, затем суммарная освещенность от светильников местного освещения и светильников общего освещения. Количество контрольных точек, в которых измеряется освещенность, должно быть не менее 10.
В современных больших многопролетных зданиях освещенность от светильников общего освещения измеряется в каждом пролете здания, на его торцах и в центральной части.
Для увеличения точности необходимо производить измерения одной и той же освещенности не менее трех раз и усреднять полученные результаты. Учитывая значительную зависимость светового потока от напряжения сети, при измерениях освещенности каждый раз следует производить контроль напряжения осветительной сети. При отличии напряжения сети более чем на 10 % от номинального измерения повторяются. Перед измерением должны быть произведены чистка светильников и замена неисправных ламп. Результаты измерений освещенности заносятся в журнал, а котором должна быть приведена и схема осветительных установок с нанесенными контрольными точками.

Журнал может заполняться по следующему образцу:
Предприятие ______________________________________
Цех ______________________________________________
Тип светильника ___________________________________
Мощность источника света ___________________________
Дата измерения освещенности ________________________
Напряжение сети, В _________________________________

Номера рольных точек Измеренные значения освещенности, лк Нормированные значения освещенности, лк
Комбинированное
освещение Общее освещение Комбинированное освещение Общее освещение
1
2
3

Приведенная выше методика полностью применима для измерения освещенности, создаваемой световым излучением промышленных агрегатов, направленным в нижнюю полусферу. В этом случае измерение освещенности производится в наиболее светлых местах горизонтальных и вертикальных поверхностей, на которые попадает это излучение.